《炬丰科技-半导体工艺》采用RCA-1进行硅蚀刻

《炬丰科技-半导体工艺》中提到,RCA-1(改良版SC1)清洗剂在25-30埃的硅层上10分钟内可蚀刻25-30埃的硅。此蚀刻现象在绝缘体上硅技术中可能具有重要意义。文章详细探讨了SC1清洗对薄膜厚度的影响,指出在某些器件结构中,即使是少量的硅损失也需要精确控制。

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书籍:《炬丰科技-半导体工艺》

文章:采用RCA-1进行硅蚀刻

编号:JFKJ-21-725

作者:炬丰科技

摘要

    

众所周知,在器件制造过程中反复使用的RCA标准清洁1会导致硅的蚀刻。在一些工艺流程中,当制造具有薄膜的器件时,例如在绝缘体上硅技术中,这种蚀刻可能是重要的。我们显示,当在二氧化硅上的裸露硅层上涂覆10分钟时,25-30埃的硅被改良版的SC1清洗剂(1:8:64重量份的NH4OH、H2O2和H2O)蚀刻掉。

介绍

  制造业中使用了许多湿法化学清洗方案,其中最流行的是Kern在1965年开发的RCA标准清洗SC1。这种清洗的主要目的是从晶片表面去除颗粒和金属等杂质。RCA清洁旨在分两步完成。

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