华为OD机试 - 出错的或电路 - 二进制 (Java 2023 B卷 100分)

本文详细介绍了华为OD机试2023B卷中关于二进制或门电路错误的问题。题目描述了一个或门在处理二进制输入时可能出现的比特位交换现象,导致结果不正确。解题思路包括统计输入二进制数中0和1的个数,然后遍历位来计算受影响的交换方案数量。提供的Java算法源码和效果展示了具体实现过程。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

一、题目描述

某生产门电路的厂商发现某一批次的或门电路不稳定,具体现象为计算两个二进制数的或操作时,第一个二进制中某两个比特位会出现交换,交换的比特位置是随机的,但只交换这两个为,其他位不变。

很明显,这个交互可能会影响最终的或结果,也可能不会有影响。

为了评估影响和定位出错的根因,工程师需要研究在各种交换的可能下,最终的或结果发生改变的情况有多少种。

二、输入描述

第一行有一个正整数N,其中 1 <=N <=1000000。
第二行有一个长为N的而二进制数,表示与电路的第一输入数,即会发生比特交换的输入数。
第三行有一个长为N的二进制数,表示与电路的第二个输入数。注意第二个输入数不会发生比特交换。

三、输出描述

输出只有一个整数,表示会影响或结果的交换方案个数。

四、解题思路

  1. 输入的二进制数的位数;
  2. 输入第一个二进制数;
  3. 输入第二个二进制数;
  4. 统计两个二进制数中 0 和 1 的个数;
  5. 遍历两个二进制数的每一位;
  6. 如果 bin1 的该位是 0;
    • 统计 bin1 中 0
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